顆粒物CEMS的取樣問(wèn)題和基本分析技術(shù)

介紹了在實(shí)際應(yīng)用中的顆粒物CEMS的取樣問(wèn)題和基本分析技術(shù),著重強(qiáng)調(diào)了顆粒物分層對(duì)取樣點(diǎn)位的影響以及在基于光學(xué)技術(shù)的顆粒物CEMS運(yùn)行中,保持顆粒物特性和尺寸分布相對(duì)穩(wěn)定的重要性.

作 者： 楊凱 滕恩江   作者單位： 中國(guó)環(huán)境監(jiān)測(cè)總站,北京,100029  刊 名： 中國(guó)環(huán)境監(jiān)測(cè)  ISTIC PKU 英文刊名： ENVIRONMENTAL MONITORING IN CHINA  年，卷(期)： 2005 21(3)  分類號(hào)： X830.1  關(guān)鍵詞： CEMS   取樣   分析   監(jiān)測(cè)  

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