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用于相位法激光測(cè)距的電路系統(tǒng)設(shè)計(jì)
本文論述了相位法激光測(cè)距的原理和引起誤差的原因,提出了電路系統(tǒng)設(shè)計(jì)方案,著重對(duì)頻率電路和精密檢相電路進(jìn)行了較為深入的分析與討論.針對(duì)大小角度、零點(diǎn)漂移和信號(hào)幅度等原因引起的測(cè)量誤差,本文提出了具體的解決措施,提高了數(shù)字檢相電路的測(cè)相精度和穩(wěn)定性,最后給出了測(cè)試方法和測(cè)試結(jié)果.
作 者： 金寧 汪偉 翁劍楓 張?jiān)鲆? 作者單位： 金寧(中國(guó)計(jì)量學(xué)院信息工程學(xué)院,)汪偉,翁劍楓(中國(guó)計(jì)量學(xué)院機(jī)電工程學(xué)院,)
張?jiān)鲆?中國(guó)計(jì)量學(xué)院計(jì)量技術(shù)工程學(xué)院,)
刊 名： 光電子·激光 ISTIC EI PKU 英文刊名： JOURNAL OF OPTOELECTRONICS·LASER 年，卷(期)： 2001 12(8) 分類號(hào)： P225.2 關(guān)鍵詞： 相位 激光測(cè)距 數(shù)字檢相【用于相位法激光測(cè)距的電路系統(tǒng)設(shè)計(jì)】相關(guān)文章：
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