X射線粉晶衍射儀分析磷化膜組成

利用X射線粉晶衍射儀對金屬板材及其磷化膜進行全譜和分段掃描,在確定鍍膜中存在Zn3(PO4)2·4H2O物相基礎(chǔ)上,求出Zn3(PO4)2·4H2O的(020)晶面和(241)晶面衍射峰積分或強度計數(shù),計算出該樣品磷化膜的面比.

作 者： 遲廣成 趙愛林 宋麗華 CHI Guang-cheng ZHAO Ai-lin SONG Li-hua   作者單位： 沈陽地質(zhì)礦產(chǎn)研究所,遼寧,沈陽,110032  刊 名： 巖礦測試  ISTIC PKU 英文刊名： ROCK AND MINERAL ANALYSIS  年，卷(期)： 2007 26(2)  分類號： P575.5  關(guān)鍵詞： X射線衍射法   磷化膜   面比  

【X射線粉晶衍射儀分析磷化膜組成】相關(guān)文章：

X射線粉晶衍射法在螢石礦藥鑒定與質(zhì)量評價中的應(yīng)用04-26

粉晶X射線衍射在礦物巖石學(xué)研究中的應(yīng)用04-26

衍射頻譜法測光柵膜層厚度04-27

野外手提式X射線熒光分析儀通過驗收04-27

反滲透膜經(jīng)濟壽命分析04-27

如何選擇邏輯分析儀04-27

新型帶銹磷化處理劑作用機理分析04-26

數(shù)字水準儀與全站儀精度評定的實驗分析04-27

SMBR中不同膜組件形式的膜通量變化數(shù)學(xué)模型分析04-25

淺談煙氣分析儀的在線校準04-26