- 相關(guān)推薦
超細(xì)地質(zhì)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)及其應(yīng)用
74μm(200目)樣品粒度是當(dāng)今地質(zhì)分析的一項重要技術(shù)基礎(chǔ).文中從實踐角度指出了現(xiàn)代地質(zhì)分析技術(shù)對樣品粒度的新需求,并由地質(zhì)分析樣品粒度演化的歷史說明了隨著分析技術(shù)的不斷進(jìn)步,分析樣品粒度階梯性減小的趨勢.從而認(rèn)為應(yīng)不失時機地研制超細(xì)粒度的地質(zhì)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì),為研究超細(xì)樣品條件下的分析技術(shù)奠定物質(zhì)基礎(chǔ)、提供評價依據(jù).為此采用超細(xì)粉碎技術(shù)制備了一套具有超細(xì)粒度的海洋沉積物標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)系列;并給出了以超細(xì)樣品粉末直接壓片制樣,用X射線熒光法精確測定了海山磷塊巖中包括C,F,Cl,Br和Ⅰ在內(nèi)的主、次、痕量共32個元素的應(yīng)用實例.最后討論了超細(xì)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)制備及應(yīng)用可能對地質(zhì)分析技術(shù)未來發(fā)展造成的影響--導(dǎo)致新的地質(zhì)分析技術(shù)體系的產(chǎn)生.
作 者： 王曉紅 高玉淑 王毅民 作者單位： 國家地質(zhì)實驗測試中心,北京,100037 刊 名： 自然科學(xué)進(jìn)展 ISTIC PKU 英文刊名： PROGRESS IN NATURAL SCIENCE 年，卷(期)： 2006 16(3) 分類號： P5 關(guān)鍵詞： 地質(zhì)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 超細(xì)粉碎 粒度分析 X射線熒光 "綠色"分析技術(shù)【超細(xì)地質(zhì)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)及其應(yīng)用】相關(guān)文章：
Zn同位素分析方法及其地質(zhì)應(yīng)用04-26
環(huán)境標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)在環(huán)境監(jiān)測中的應(yīng)用04-25
生物質(zhì)活性炭的制備及其染料廢水中的應(yīng)用04-26
GPS技術(shù)的地學(xué)應(yīng)用概述及其石油地質(zhì)學(xué)應(yīng)用展望04-27
地震時頻屬性及其在油氣地震地質(zhì)技術(shù)中應(yīng)用的綜述04-27
標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的管理與量值溯源04-26
標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)/標(biāo)準(zhǔn)樣品生產(chǎn)者認(rèn)可04-26
論評價及其標(biāo)準(zhǔn)04-27