雙探測(cè)器密度測(cè)井儀器結(jié)構(gòu)參數(shù)對(duì)測(cè)井性能的影響

對(duì)雙探測(cè)器密度測(cè)井儀器,應(yīng)用蒙特卡羅數(shù)值模擬方法研究短源距和短源距探測(cè)器準(zhǔn)直孔角度變化對(duì)測(cè)井性能的影響.模擬計(jì)算結(jié)果表明,短源距對(duì)探測(cè)器計(jì)數(shù)和密度的補(bǔ)償有影響,短源距過(guò)大,探測(cè)器計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)漲落過(guò)大,短源距過(guò)小,不利于密度的補(bǔ)償,因而短源距的選擇要綜合考慮這兩方面的影響;短源距探測(cè)器準(zhǔn)直孔角度對(duì)密度補(bǔ)償?shù)挠绊懖淮?但可以影響計(jì)數(shù)率.這些結(jié)果可為密度測(cè)井儀的設(shè)計(jì)以及優(yōu)化提供參考.

作 者： 孫培偉 張建民 岳愛(ài)忠 何彪 SUN Pei-wei ZHANG Jian-min YUE Ai-zhong HE Biao   作者單位： 孫培偉,張建民,SUN Pei-wei,ZHANG Jian-min(西安交通大學(xué),陜西,西安,710049)

岳愛(ài)忠,何彪,YUE Ai-zhong,HE Biao(中國(guó)石油集團(tuán)測(cè)井有限公司,陜西,西安,710021) 

刊 名： 測(cè)井技術(shù)  ISTIC PKU 英文刊名： WELL LOGGING TECHNOLOGY  年，卷(期)： 2006 30(6)  分類(lèi)號(hào)： P631.54  關(guān)鍵詞： 密度測(cè)井   蒙特卡羅方法   源距   準(zhǔn)直孔   脊肋圖  

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