壓電體內(nèi)孔邊裂紋的應力強度因子

本文研究含有Ⅲ型孔邊裂紋壓電彈性體的反平面問題.根據(jù)Muskhelishvili的數(shù)學彈性力學理論,并利用保角變換和Cauchy積分的方法,對含有圓孔孔邊單裂紋和雙裂紋的壓電彈性體分別進行了分析.基于電不可穿透裂紋模型,得到了在反平面剪力和面內(nèi)電載荷的共同作用下裂紋尖端應力強度因子的解析解.最后,通過數(shù)值算例,討論了應力強度因子隨裂紋長度變化的規(guī)律.結(jié)果表明:應力強度因子隨著裂紋和孔的相對尺寸的增加而增加,并且單邊裂紋的應力強度因子要比雙邊裂紋的應力強度因子大.

作 者： 王永健 高存法 WANG Yong-jian GAO Cun-fa   作者單位： 南京航空航天大學,航空宇航學院,南京,210016  刊 名： 力學季刊  ISTIC PKU 英文刊名： CHINESE QUARTERLY OF MECHANICS  年，卷(期)： 2008 29(2)  分類號： O346.1  關(guān)鍵詞： 壓電材料   孔邊裂紋   應力強度因子  

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