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采用標(biāo)記條紋跟蹤的沖擊過程三維輪廓術(shù)

時間:2023-05-03 00:00:58 數(shù)理化學(xué)論文 我要投稿
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采用標(biāo)記條紋跟蹤的沖擊過程三維輪廓術(shù)

針對在沖擊、爆轟等快變化過程的三維輪廓術(shù)中,CCD拍攝速度低于物體的運動速度而導(dǎo)致對動態(tài)條紋的時間采樣不足和物體表面發(fā)生破裂而分成數(shù)塊的動態(tài)過程,提出一種采用標(biāo)記條紋進行跟蹤的動態(tài)過程三維輪廓術(shù).以傅里葉變換輪廓術(shù)為基礎(chǔ),通過采用標(biāo)記條紋進行跟蹤鎖定變形條紋中同級次條紋的變化以及Gerchberg迭代算法在破裂區(qū)域迭代生成偽條紋,對破裂表面分塊進行處理,有效地解決了在快變化動態(tài)過程的三維重建中因時間采樣不足和條紋斷裂對三維相位場的展開所帶來的問題,獲得了物體正確的面形分布.實驗證實了此種方法的正確性.

作 者: 肖焱山 蘇顯渝 張啟燦 李澤仁 XIAO Yan-shan SU Xian-yu ZHANG Qi-can LI Ze-ren   作者單位: 肖焱山,XIAO Yan-shan(四川大學(xué),電子信息學(xué)院光電系,四川,成都,610064;三峽大學(xué),理學(xué)院,湖北,宜昌,443000)

蘇顯渝,張啟燦,SU Xian-yu,ZHANG Qi-can(四川大學(xué),電子信息學(xué)院光電系,四川,成都,610064)

李澤仁,LI Ze-ren(中國工程物理研究院流體物理研究所,四川,綿陽,621900) 

刊 名: 光電工程  ISTIC PKU 英文刊名: OPTO-ELECTRONIC ENGINEERING  年,卷(期): 2007 34(8)  分類號: O438  關(guān)鍵詞: 沖擊過程   三維面形測量   標(biāo)記條紋   傅里葉變換輪廓術(shù)  

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