XRF方法在測(cè)量紙張厚度中的應(yīng)用

本文的目的是研究XRF法在紙張厚度測(cè)量上的應(yīng)用.采用X射線熒光吸收法和源初級(jí)射線散射法分別對(duì)一批紙張樣品質(zhì)量厚度進(jìn)行測(cè)量,并對(duì)測(cè)量結(jié)果進(jìn)行對(duì)比,作出有益的討論.測(cè)量是采用成都微子科技有限公司的IED-2000P型手提式多元素X射線熒光分析儀,探測(cè)器選用Si-PIN電致冷半導(dǎo)體探測(cè)器,同位素源采用雙激發(fā)源(238Pu).實(shí)驗(yàn)表明:X射線熒光吸收法在紙張厚度測(cè)量上的準(zhǔn)確度要比源初級(jí)射線散射法好,采用源初級(jí)射線散射法對(duì)于紙張厚度的測(cè)量也是可行的.

作 者： 郭偉 賴萬昌 郭生良 程峰 GUO Wei LAI Wang-chang GUO Sheng-liang CHENG-Feng   作者單位： 成都理工大學(xué)核技術(shù)與自動(dòng)化工程學(xué)院,成都,610059  刊 名： 核電子學(xué)與探測(cè)技術(shù)  ISTIC PKU 英文刊名： NUCLEAR ELECTRONICS & DETECTION TECHNOLOGY  年，卷(期)： 2007 27(5)  分類號(hào)： O657.34  關(guān)鍵詞： X射線熒光   紙張   質(zhì)量厚度   散射射線  

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