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衍射頻譜法測光柵膜層厚度
根據(jù)傅立葉光學理論從光柵的衍射頻譜中可以反推光柵本身的多種信息,包括其形貌特征.利用矩形相位光柵的傅立葉變換,推導出零級和一級衍射光強和矩形相位光柵膜層厚度之間的函數(shù)關系,據(jù)此可在測得零級和一級次光強后,推算出光柵膜層厚度.以臺階儀作為標準,該方法的測量誤差在4%以內(nèi).
作 者: 李何立 文學金 曹向群 林斌 作者單位: 光學儀器國家重點實驗室,國家光學儀器工程中心,浙江大學,浙江,杭州,310027 刊 名: 光電工程 ISTIC PKU 英文刊名: OPTO-ELECTRONIC ENGINEERING 年,卷(期): 2004 31(5) 分類號: O438.2 O484.5 關鍵詞: 膜厚測量 相位光柵 傅立葉光學 衍射頻譜【衍射頻譜法測光柵膜層厚度】相關文章:
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