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樣本內(nèi)變差對(duì)過(guò)程監(jiān)控效果的影響及探測(cè)方法
控制圖要求各個(gè)樣本中的子樣保持同一分布,以保證非系統(tǒng)因素在樣本內(nèi)引起的過(guò)程波動(dòng)最小,同時(shí)最大化非系統(tǒng)因素在樣本間引起的波動(dòng).而當(dāng)樣本中的子樣不是同一分布時(shí)候,就會(huì)導(dǎo)致控制圖具有過(guò)大的控制線,降低監(jiān)控的能力.本文旨在分析和比較幾種樣本內(nèi)變差的探測(cè)方法,并找出在不同情況下最合適的樣本內(nèi)變差探測(cè)組合.
作 者: 王海宇 作者單位: 中原工學(xué)院經(jīng)濟(jì)管理學(xué)院 刊 名: 航空制造技術(shù) ISTIC 英文刊名: AERONAUTICAL MANUFACTURING TECHNOLOGY 年,卷(期): 2007 ""(7) 分類號(hào): V2 關(guān)鍵詞: 樣本內(nèi)變差 控制圖 過(guò)程波動(dòng)【樣本內(nèi)變差對(duì)過(guò)程監(jiān)控效果的影響及探測(cè)方法】相關(guān)文章:
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